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高频微波介电常数试验仪批发宣武区

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高频微波介电常数试验仪批发宣武区

发布用户:Bgjy 时间:2021-06-18 09:16

高频微波介电常数试验仪批发宣武区

高频微波介电常数试验仪批发宣武区

高频介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

高频微波介电常数试验仪批发宣武区

技术参数:Q值测量Q值测量范围:2~1023。

Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

标称误差

     频率范围(100kHz~10MHz): 频率范围(10MHz~160MHz):

     固有误差:≤5%±满度值的2% 固有误差:≤6%±满度值的2%

     工作误差:≤7%±满度值的2% 工作误差:≤8%±满度值的2%

电感测量范围:4.5nH~7.9mH

高频微波介电常数试验仪批发宣武区

准确度150pF以上±1%

高频线圈的Q值测量(基本测量法)

信号源频率覆盖范围

介电常数测试仪 电容率测试仪

准确度150pF以上±1%

能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

在 1 MHz或更高频率下,减小接线的电感对测量结果的影响。此时,可采用同轴接线系统(见图 1所示),当用变电抗法测量时,应提供一个固定微调电容器。

频率范围10kHz~50MHz

特点: 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

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试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM

介质损耗测试仪 介质损耗角正切值测试仪 QS-37介电常数介质损耗测试仪

实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。

Q值量程自动/手动量程控制。

粉体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。

固有误差5%满度值的2%;

塑料材料介电常数测试仪。 GBT 1409-2006电容率和介质损耗因数测试仪

在结构紧密的陶瓷中,介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能,往往在配方中引人此易熔物质(如黏土),形成玻璃相,这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大,介质损耗也增大。因面一般高频瓷,如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大,主要的原因是:主晶相结构松散,生成了缺固济体、多品型转变等。

调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

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电感测量范围:14.5nH~8.14H电容测量:1~ 460接测量范围1~460pF

介电常数测试仪 电容率测试仪

频率范围20kHz~10MHz;

试验步骤试样的制备试样应从固体材料上截取,为了满足要求,应按相关的标准方法的要求来制备。

信号源频率覆盖范围

CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。

频率范围10kHz~50MHz

应地测量厚度,使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内,测量点应均匀地分布在试样表面。必要时,应测其有效面积。

产品配置:测试主机:一台测试电感:9个测试夹具:1套

安全措施高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。

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注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则

CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。

试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM

Q值量程自动/手动量程控制。

10~60MHz

试验步骤试样的制备试样应从固体材料上截取,为了满足要求,应按相关的标准方法的要求来制备。

漏导损耗

特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

工作误差7%满度值的2%;

高频线圈的Q值测量(基本测量法)

高频微波介电常数试验仪批发宣武区

高频介电常数测试仪电极规格固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm

还应指出,带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应

常用的检测方法标准有:GB/T 1409 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 1693 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

还应指出,带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应

固有误差5%满度值的2%;

能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

10~99.9999kHz

测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

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