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四探针导电电阻测试仪定制顺义区

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四探针导电电阻测试仪定制顺义区

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-16 15:44

四探针导电电阻测试仪定制顺义区

四探针导电电阻测试仪定制顺义区


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

四探针导电电阻测试仪定制顺义区

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

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轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

测量精度±(0.1%读数)

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

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本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

以下设置和功能属于配置操作软件机型使用,如您购买的无电脑操作软件的话,请勿设置.

误差:±0.2%读数±2字

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

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本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

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测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

探针笔测试结束,套好护套,避免人为断针

接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示"键进入,

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

中、英文界面

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使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

把被测物测试所需要之参数数据设定:

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

中、英文界面

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